Optotherm Sentris IC Thermal Emission Microscope

optotherm Sentris IC

Sentris 半导体器件故障分析红外热分析显微镜

详情参考：http://leaderwe.com/project/optotherm-thermal-emmi/

 高灵敏度的锁相热成像缺陷定位

配合电测，XRAY等对样品作无损分析

选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片

对短路及漏电流等分析效果佳

堆叠芯片的缺陷深度分析

0.001℃温度分辨率，5um定位分辨率，可探测 uW级功耗

其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算

价格可承受

 

Optotherm Sentris PCB Thermal Emission Microscope

570-425-EL

Optotherm EL电路板故障排除热成像系统

详情参考：http://leaderwe.com/project/optotherm-el/

 Optotherm EL 专为PCBA热分布及故障定位设计；

 PCBA热分布分析，动态热分析；

 Gold sample 建立MBC比对，定位缺陷点 ；

无需编程，特别熟悉原理图，快速定位缺陷，

产线返修，客户终端不良品快速返修；

节约维修时间，降低产品报废率

Optotherm Sentris RD Thermal Imaging Microscope

570-425-micro

Micro科研级红外热成像显微镜

详情参考：http://leaderwe.com/project/optotherm-microscope-1/

使用像素级的发射率表来做真实温度映射

最高5um的XY方向分辨

使用框选的区域或形状来统计分析热分布

用录像或热序列的形式分析和记录

温度曲线绘图和图表

温度序列，录像，数据分析

可测试微米级MEMS、光电器件、微型医疗器件等微观器件

Lock-in Thermography

Lock-in Thermography锁相热成像

锁相技术和高分辨外技术相结合

5um分辨率+0.001℃分辨率相结合

侦测低于100uw功耗的缺陷及uA及漏电流

可以实现缺陷XY以及Z方向的定位

可以定位低ESD击伤，栓锁，金属层内短路等各种缺陷

性能远优于液晶热点定位，常和Xray,Decap,EMMI、OBIRCH等技术一起使用；

lockin锁相热成像技术

Real Thermal

真实温度映射

微小器件由不同材质组成，不同材质，不同粗糙度等都影响发射率；

图像上的大部分对比度通常是由于发射率变化而不是温度变化引起；

微米级的发射率校正尤为重要,否则看到的就是一团红的虚假热分布；

Emissivity Tables软件工具可以自动创建样品的像素级发射率图；

通过将辐射率图应用于热图像，可在设备上的任何点获得准确的温度；

结合Macro,80um，20um,5um镜头，可获取微米级真实热分布。

而MEMS气体传感器由于其体积小（mm级），传感器需要自加热到一定温度后，其传感器的精度才能达到最高，这就要求在研发和测试过程中对MEMS气体传感器的电阻丝温度测量，需要使用红外热成像显微镜，如图电阻丝只有几十微米

Hot Spot

Hot Spot热点侦测

PCBA,芯片器件（封装/Die）缺陷常以热点形式出现；

Hot Spot 热点定位只需给样品上电；

一次点击或几次点击热点即会呈现；

可调用XRAY，实物图和热点图进行叠加分析；

短路，漏电流分钟经常一分钟内定位；

真正简单，易用，强大；

lockin-ic

Defect Depth

缺陷深度检测

三维封装（TSV, SiP）器件的复杂性及堆叠数量增加使确定故障深度变得具有挑战，

Sentris提供了经过验证的非破坏性技术，通过Lock-in Thermography定位故障深度，

锁相热成像技术幅位用来定位XY方向，相位用来定位Z方向（时间/周期）

通过对应的相位角，可以换算出大致的缺陷深度或所在层数

3D Sip 缺陷深度检测

MBC

Model Board Comparison (MBC)

Model Board Comparison（MBC）标准板比较功能；

可建立Gold sample上电产生热量的整个过程，

再以样品发热的过程与之进行比较，找出异常点

可以简单快速的找出PCBA系统级缺陷

提升返修成功率减少报废PCBA

Model Board Comparison (MBC)

Optotherm Systems(Sentris IC,Sentris PCB,Sentris RD) Demo Video

Optotherm Sentris IC锁相热成像快速定位热点等缺陷

Optotherm Sentris PCB定位PCB,FPC,substrate的微短路，离子迁移 CAF等

Optotherm Sentris RD 像素级发射率校正级真实温度测量